Sibress, Hersteller von Mess- und Analysesystemen zur Qualitätssicherung im Flexo- und Verpackungsdruck aus Starnberg bei München, bringt das neu entwickelte Mikroskop Sib Scope und die Messsoftware Sib View auf den Markt.

Das von Sibress neu entwickelte Mikroskop Sib Scope dient der Aufgabe Objekte, wie zum Beispiel Aniloxwalzen, Gravurplatten und Flexodruckplatten, zu untersuchen. Sib Scope lässt sich sowohl auf runden beziehungsweise zylindrischen Oberflächen ab 6 Zentimetern Durchmesser als auch auf planen Flächen einsetzen.

Das Mikroskop ist mit fünf planachromatischen Optiken ausgestattet. Die gewünschte Vergrößerung wird einfach durch Drehen des Objektivrevolvers gewählt. Sib Scope wird mit folgenden Optiken ausgeliefert: 5x, 10x, 20x, 40x, 80x sowie optional 4x und 100x. Eine Vielzahl verfügbarer mechanischer Filter ermöglicht es, Oberflächen detailscharf und kontrastreich darzustellen. Zur Objektbetrachtung kann der Anwender zwischen dem mitgelieferten 10-fach Binokular und der eingebauten, hochauflösenden Mikroskopkamera umschalten. Das Bild lässt sich dann an einem PC-Monitor begutachten.

Die Mikroskopoptik ist in X-, Y- und Z-Richtung verfahrbar. Zur Höhen/Tiefen-Ermittlung ist in Sib Scope eine Digitalmessuhr mit integriert. Bei einer Messung werden die Höhenmesswerte sofort über das speziell für das Mikroskop konzipierte Interface in die mitgelieferte, von Sibress ebenfalls neu entwickelte Software SibV iew übertragen.

Sib View zeigt auch vollautomatisch die jeweils gewählte planachromatische Optik an. Somit werden für jede Optik die in der Software hinterlegten Kalibrationsparameter automatisch angewählt und Messungen korrekt angezeigt. (kü)